Отдел Физики Поверхности
28 Si14
Department of Surface Physics
Института Автоматики и Процессов Управления
ДВО РАН,
г. Владивосток
Лаборатория 105. Лаборатория оптики и электрофизики
Объединеный семинар лаб. 102&105Заведующий лабораторией - доктор физико-математических наук, профессор Н.Г. Галкин.
Состав лаборатории
Количество сотрудников - 11,
научных сотрудников - 7,
докторов наук - 1,
кандидатов наук - 2.
Основные направления научных исследований
* Развитие физических основ технологии роста новых материалов на основе кремния и встроенных в кремниевую решетку нанокристаллитов полупроводниковых силицидов.
* Исследование и моделирование оптических, электрических и магнитных свойств материалов с пониженной размерностью на основе кремния.
* Разработка и исследование свойств новых видов полупроводниковых приборов на кремнии с использованием систем пониженной размерности.
Основные результаты
* Изучены процессы эпитаксиального роста пленок полупроводниковых силицидов Cr, Fe и Mg на кремнии, оптические и электрические свойства пленок и параметры их зонной энергетической структуры.
* Изучены процессы проводимости двумерных пленок металлов (Cr, Fe, Yb и Mg) на кремнии в условиях сверхвысокого вакуума.
* Cозданы мультислойные гетероэпитаксиальные кремниевые структуры со встроенными нанокристаллитами полупроводниковых силицидов Fe, Cr Mg и исследованы их оптические и электрические свойства.
Основные публикации
1. Galkin N.G., Velitchko T.V., Skripka S.V., Khrustalev A.B. Semiconducting and structural properties of CrSi2 A-type epitaxial films on Si(111).// Thin Solid Films. 1996. V. 280. P.211-220.
2. Галкин Н.Г., Конченко А.В, Полярный В.О. и др. Оптические и фотоэлектрические свойства наноструктур с захороненными кластерами из полупроводниковых силицидов на кремнии в видимом и ближнем ИК диапазонах // "Изв. Акад. наук. Сер. Физ., том 67 (2003) с. 155-158.
3. Galkin N.G., Goroshko D.L., Dotsenko S.A., and Louchaninov I.V., "Influence of Si(111) 3x 3/30o-Cr surface phase on the formation and conductivity of Fe and Yb monolayers at room temperature" // Thin Solid Films V. 464-465 (2004) 18-22.
Атомно-силовая микроскопия
Программа обработки изображений АСМ и управления микроскопом производства NT-MDTРуководство пользователя программы Nova
Специализированная программа обработки изображений Image Analysis 3.5
Специализированная программа обработки изображений Image Analysis 3.5
Программа для обработки изображений сканирующей зондовой микроскопии Spip 5.0.7